半导体生产企业或实验室需要对半导体功率器件进行直流参数测试：

应用场景：

▶ 研发分析 :  根据测试数据进行功率器件研发设计阶段的测试分析

▶失效分析：失效测试分析，失效机理分析、 过程分析及改善依据

▶选型配对：同类型器件参数对比分析、选型参数依据、一致性分析类比

▶ 来料检验：检验部/质量部（IQC）对出入库器件进行抽检/全检，把控器件的良品率

▶量产测试：可与机械手、扫码枪、分选机、编带机、探针台等外部设备联机测试，实现规模化、自动化快速测试

产品特点：

▶ 客户端PC、工控机均可程控测试机进行测试

▶ 菜单调用式测试程序亦可编辑软件操作简便、人机界面友好

▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试

▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发

▶ 自动识别器件极性、 NPN/PNP

▶16 位 ADC，1M/S 采样速率

▶高压源最高 2500V：选配1.4KV-- 2KV

▶高流源最高500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上

▶ 驱动电压 10mV~40V

▶控制极电流 10uA~100mA

▶四线开尔文连接确保连接可靠性

▶ RS232 串口通信

▶Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）

▶提供丰富的测试适配器

▶切换板采用高速水银继电器，测试效率与可靠性大大提高

▶可与分选机、探针台、编带机等联机测试

BW-4022A可测试器件类型及测试项目：

▶二极管类：Diode/ZD（Zener Diode） /SBD（SchottkyBarrierDiode）/TVS/整流桥堆 

▶三极管类： 三极管/单双向可控硅/MOS/JFET/IGBT/三端功率驱动器/七端半桥驱动/高边功率开关

▶保护类：压敏电阻/单组电压保护器/双组电压保护器

▶稳压集成类：三端稳压器/基准 IC（TL431） /四端稳压/稳压集成类

▶继电器类&光耦类&传感监测类

▶高压源 2400V：（选配1.4KV-- 2KV）

▶高流源 500A ：（选配 40A.100A,200A.300A及以上）

▶栅极电压 40V/100mA 分辨率最高至 1.5uV / 1.5pA 精度最高可至 0.1%

▶支持“脉冲式自动加热”

▶支持“分选机”、”编带机“、“探针台”等半导体设备通信联机

BW-4022A测试项目：

▶漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

▶击穿参数：BVCEO BVCES (300μS Pulse above 10mA) BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

▶导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode) VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

▶关断参数：VGSOFF     ▶触发参数：IGT、VGT       ▶保持参数：IH、IH+、IH-

▶锁定参数：IL、IL+、IL-   ▶增益参数：hFE、CTR、gFS   ▶间接参数：IL

▶混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、 Output Regulation