产品名称：BW-3010B 晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)
品牌：博微电通
名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)
型号：BW-3010B
用途：BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。
产品电气参数
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
产品特点
大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
全部可编程的DUT恒流源和电压源.
内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
高压测试电流分辨率1uA,测试电压最高可达1500V；
重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
软件自校准功能；
自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；
两种工作模式：手动、自动测试模式。
BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系
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型号类型 |
P1 |
T1 |
P2 |
T2 |
P3 |
T3 |
P4 |
T4 |
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光藕PC817 |
A |
A测试端 |
K |
K测试端 |
E |
E测试端 |
C |
C测试端 |
BW-3010B测试技术指标
1、光电传感器指标:
1.1输入正向压降(VF)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
1.2反向电流(Ir)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-200UA |
0.2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
1.3集电极电流(Ic)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-40mA |
0.2MA |
<1%+2RD |
VCE:0-20V IF:0-40MA |
1.4输出导通压降(VCE(sat))
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC：0-40mA IF:0-40mA |
1.5输出漏电流(Iceo)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
|
0-2.000mA |
2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
2、光电耦合器：
2.1 耐压(VCEO)测试指标
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-1400V |
1V |
<2%+2RD |
0-2mA |
2.2输入正向压降(VF)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
2.3反向漏电流(ICEO)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
BVCE=25V |
2.4反向漏电流(IR)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
|
0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
VR=0-20V |
2.5电流传输比(CTR)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-9999 |
1% |
1% +5RD |
BVCE：0-20V IF:0-100MA |
2.6输出导通压降(VCE(sat))
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC：0-1.000A IF:0-1.000A |
2.7可分档位总数：10档。
BW-3010B测试定义与规范
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极。
VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流。
Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压。
Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流。
CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。
CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。
Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
