高温栅偏实验系统BW-HTGB-C16
适用于各种封装的 IGBT/MOS 模块高温栅偏试验。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
